Описание:
ZSX Primus II от Ригаку предоставляет возможность быстрого количественного определения основных и второстепенных элементов, от Бериллия (Be) до урана (U) в широком спектре образцов – с минимальными стандартами.
Расположение оптической системы наверху для высокой надежности
Новый ZSX Primus II прибор является инновационной конфигурацией с расположением оптической системы наверху. Это позволяет не тревожиться о загрязнении лучевого канала или о простоях, вызванных техническим обслуживанием камеры для образца. Геометрия с расположением оптической системы наверху устраняет проблемы с поддержанием чистоты и увеличивает эффективное время работы прибора.
Эффективность анализа легких элементов с картографированием и мульти-точечный анализ
Превосходные технические характеристики и универсальность спектрометра ZSX Primus позволяют анализировать наиболее сложные образцы. 30 микронная трубка - самая тонкая из доступных в промышленности рентгеновская трубка с торцевым окном, гарантирует простую и ясную характеризацию легких элементов. В сочетании с сверхсовременным комплексом картографирования для определения однородности и включений, ZSX Primus позволяет легко проводить детальное исследование образцов. Прибор предоставляет аналитическую способность проникать внутрь, что не так легко получить используя другие аналитические методики. Наличие мульти-точечного анализа также помогает устранить ошибки выборки в неоднородных материалах.
SQX фундаментальные параметры с EZ-сканирующим пакетом
EZ-сканирование позволяет пользователям анализировать неизвестные образцы без каких-либо предварительных настроек. Эта сохраняющая время функция требует всего несколько щелчков мыши и ввести имя образца. В сочетании с программным обеспечением SQX методом фундаментальных параметров, она предоставляет самые точные и быстрые результаты рентгенофлуоресцентного анализа. SQX может автоматически корректировать все матричные эффекты, в том числе линии перекрытия. В пакете доступна поправка на эффект вторичного возбуждения фотоэлектронами (легкие и ультра-легкие элементы), различные атмосферы, примеси и различные размеры образцов. Увеличение точности достигается с помощью библиотеки соответствия и программ анализа правильных сканов.