Интернет каталог с ценами: www.labsklad.kz
Более 200 000 наименований товаров
Более 3 500 обработанных заказов
+7 (727) 225-20-35
+7 (707) 996-19-55
e-mail:
Интернет каталог с ценами: www.labsklad.kz
Более 200 000 наименований товаров
Более 3 500 обработанных заказов
+7 (727) 225-20-35
+7 (707) 996-19-55
e-mail:
|
Цена по запросу |
В наличии:
под заказ
|
Обновлено:07.11.2014 |
Действует до:00.00.0000 |
Производитель:Bruker |
Количество в упаковке:1 шт. |
Описание:Рентгеновская метрология D8 FABLINEПроизводство полупроводников постоянно развивается, постоянно растут потребности в производстве все более компактных устройств и поиске более чистых составляющих, и все это в условиях увеличения производства. Компания Bruker предлагает не имеющую аналогов в мире технологию для быстрых и точных измерений в целях технологического контроля. Рентгеновские методы обеспечивают неразрушающий способ получения широкого спектра физических параметров полупроводниковых материалов. Длина волны совпадает с промежутками в соответствующей кристаллической решетке, следовательно, рентгеновские лучи являются естественным зондом для любого типа образцов полупроводников. Возможен мониторинг полупроводниковых пластин толщиной до 300 мм с пространственным разрешением около 50 µм для научно-исследовательских целей или же ежедневного производственного контроля. Компания Bruker предлагает специально разработанные решения для удовлетворения ваших экспериментальных потребностей. |
|